IMD recebe palestra com pesquisador do Inmetro

Evento aconteceu nesta segunda-feira, 25, e tratou sobre o uso de redes blockchain na metrologia
25-11-2019 / ASCOM
Evento Inovação

O Instituto Metrópole Digital (IMD/UFRN) promoveu, na manhã desta segunda-feira (25), uma palestra com o cientista da computação Wilson de Souza Melo Júnior, pesquisador do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (Inmetro) - autarquia federal brasileira vinculada ao Ministério da Economia.

Reunindo professores, alunos e pesquisadores do Instituto, a palestra teve por objetivo apresentar a pesquisa “Redes Blockchain, Metrologia e Avaliação da Conformidade: Aplicações e Possibilidades”, realizada este ano pelo cientista.

Atuando junto à Diretoria de Metrologia Científica do Inmetro, o pesquisador desenvolveu um estudo sobre o uso de redes blockchain (tecnologia de registro de informações que funciona como uma rede de blocos encadeados) aplicadas à metrologia e avaliação de conformidade. Esta última consiste em um processo sistematizado que mensura o grau de confiança de um produto, serviço, processo ou profissional.

“Nesta apresentação, discutimos também os problemas que justificam o uso de blockchains, os detalhes da arquitetura e aplicações que podem se beneficiar da mesma. Além disso, apresentamos recentes trabalhos do Inmetro, feitos em parceria com o PTB (Alemanha) e que envolvem aplicações com criptografia homomórfica”, explica o pesquisador.

Sobre o palestrante

Pesquisador do Inmetro desde 2011, Wilson de Souza desenvolve, sobretudo, projetos de pesquisa relacionados à avaliação de softwares, segurança de sistemas físicos cibernéticos e testes de sistemas metrológicos controlados por software.

Com experiência nas áreas de desenvolvimento de sistemas e gerenciamento de projetos, o pesquisador é graduado em ciência da computação, mestre em informática industrial e doutor em informática. Ao longo de sua carreira profissional, o pesquisador tem atuado sobretudo na criação de produtos de Tecnologia da Informação (TI) voltados para controle industrial, processamento de imagens e reconhecimento de padrões.